通信用光電子器件熱沖擊試驗(yàn)
健明迪檢測(cè)提供的通信用光電子器件熱沖擊試驗(yàn)，通信用光電子器件熱沖擊試驗(yàn) 試驗(yàn)范圍 1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測(cè)器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機(jī)、光接收機(jī)和光中繼器的關(guān)鍵器件，具有CMA，CNAS資質(zhì)。
通信用光電子器件熱沖擊試驗(yàn) 試驗(yàn)范圍
1、有源器件：有源器件包括光源、光檢測(cè)器和光放大器，這些器件是光發(fā)射機(jī)、光接收機(jī)和光中繼器的關(guān)鍵器件，和光纖一起決定著基本光纖傳輸系統(tǒng)的水平。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準(zhǔn)直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關(guān)、光濾波器、光衰減器等。
2、光無源器件：光無源器件主要有連接器、光纖準(zhǔn)直器、耦合器、波分復(fù)用器/解復(fù)用器、光隔離器、光環(huán)形器、光開關(guān)、光濾波器、光衰減器等。
通信用光電子器件熱沖擊試驗(yàn) 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 33768-2017 通信用光電子器件可靠性試驗(yàn)方法
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
GB/T 42259-2022 金屬及其他無機(jī)覆蓋層 熱障涂層耐熱循環(huán)與熱沖擊性能測(cè)試方法
EN 60749-6-2002 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第6部分：高溫儲(chǔ)存
GB/T 4937.23 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第23部分：高溫工作壽命
GB/T 21194通信設(shè)備用的光電子器件的可靠性通用要求
GB/T 42259-2022 金屬及其他無機(jī)覆蓋層 熱障涂層耐熱循環(huán)與熱沖擊性能測(cè)試方法
EN 60749-6-2002 半導(dǎo)體器件 機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第6部分：高溫儲(chǔ)存
GB/T 4937.23 半導(dǎo)體器件機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法 第23部分：高溫工作壽命
通信用光電子器件熱沖擊試驗(yàn) 試驗(yàn)背景
沖擊測(cè)試是用于考核產(chǎn)品對(duì)周圍環(huán)境溫度急劇變化的適應(yīng)性，是裝備設(shè)計(jì)定型的鑒定試驗(yàn)和批產(chǎn)階段的例行試驗(yàn)中不可缺少的試驗(yàn)，在有些情況下也可以用于環(huán)境應(yīng)力篩選試驗(yàn)。通信用光電子器件熱沖擊試驗(yàn)可確定密封光電子器件在遭受到溫度劇變時(shí)的抵抗能力和產(chǎn)生的影響。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的熱沖擊試驗(yàn)服務(wù)。
健明迪檢測(cè)可靠性實(shí)驗(yàn)中心具備各種通信用光電子器件的環(huán)境試驗(yàn)?zāi)芰Γ瑸橥ㄐ庞霉怆娮悠骷峁I(yè)的熱沖擊試驗(yàn)服務(wù)。
通信用光電子器件熱沖擊試驗(yàn) 試驗(yàn)方法
按以下程序進(jìn)行試驗(yàn)：
a）試驗(yàn)前對(duì)試樣的主要光電特性進(jìn)行測(cè)試。
b）將試樣放于試驗(yàn)槽中，液體在試樣周圍的流動(dòng)不應(yīng)受到阻礙。
c）試樣放在高溫中保持5 min后，再將試樣放入低溫中保持5 min ；
試樣應(yīng)在2 min內(nèi)達(dá)到規(guī)定的溫度﹔從高溫到低溫，或從低溫到高溫的轉(zhuǎn)換時(shí)間不得超過10s。
d）按照c）步驟進(jìn)行15次循環(huán)。
a）試驗(yàn)前對(duì)試樣的主要光電特性進(jìn)行測(cè)試。
b）將試樣放于試驗(yàn)槽中，液體在試樣周圍的流動(dòng)不應(yīng)受到阻礙。
c）試樣放在高溫中保持5 min后，再將試樣放入低溫中保持5 min ；
試樣應(yīng)在2 min內(nèi)達(dá)到規(guī)定的溫度﹔從高溫到低溫，或從低溫到高溫的轉(zhuǎn)換時(shí)間不得超過10s。
d）按照c）步驟進(jìn)行15次循環(huán)。
