光學儀器彈跳或恒加速度與高低溫綜合試驗光學儀器污染、太陽輻射綜合試驗光學儀器濕空氣試驗
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光學儀器彈跳或恒加速度與高低溫綜合試驗
試驗方法 1、彈跳與高溫綜合試驗 2、彈跳與低溫綜合試驗 3、恒加速度與高溫綜合試驗 4、恒加速度與低溫綜合試驗 確保上述條件的方法有：將試樣裝置的夾具加熱到高，具有CMA，CNAS資質。
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光學儀器污染、太陽輻射綜合試驗
試驗方法 綜合試驗條件下的嚴酷等級遠高于任意單一試驗條件下的嚴酷等級。試驗應在規定的環境大氣條件下進行，同時應按照規定相關要求進行，具有CMA，CNAS資質。
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光學儀器濕空氣試驗
試驗方法 用于試驗的二氧化硫和硫化氫應為化學純氣體，取自天然壓縮氣缸。 試驗過程中，試樣不應直接暴露于陽光下，試驗箱（室）或試樣本身不應有凝露產生，具有CMA，CNAS資質。
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光學儀器低壓與溫度綜合試驗
試驗方法 試驗條件采用空氣循環的低壓箱（室）。低氣壓箱本身可作為溫熱箱，也可將其安裝在溫熱箱中，具有CMA，CNAS資質。
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光學儀器溫度變化與碰撞振動綜合試驗
試驗方法 在綜合作用力條件下，對暴露的試樣進行的試驗，要比前述任何示例環境條件試驗更為嚴酷，具有CMA，CNAS資質。
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光學儀器低壓與高低溫或濕熱綜合試驗
試驗方法 1、低氣壓與大氣溫度相結合 2、低氣壓與高溫相結合 3、低氣壓結合濕熱、壓差小 4、低氣壓結合濕熱、壓差中等 5、低氣壓結合濕熱、壓差大 6、低氣壓結，具有CMA，CNAS資質。
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